ATE是Automatic Test Equipment的缩写，根据客户的测试要求、图纸及参考方案，采用MCU、PLC、PC基于VB、VC开发平台，利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技术开发、设计各类自动化测试设备。在所有的电子元器件（Device）的制造工艺里面，存在着去伪存真的需要，这种需要实际上是一个试验的过程。

 

 

    为了实现这种过程，就需要各种试验设备，这类设备就是所谓的ATE（Automatic Test Equipment）。 这里所说的电子元器件 DUT（Device Under Test），当然包括IC类别，此外，还包括分立的元件，器件。ATE存在于前道工序（Front End）和后道工序（Back End）的各个环节，具体的取决于工艺（Process）设计的要求。

 

    折叠编辑本段作用在元器件的工艺流程中，根据工艺的需要，存在着各种需要测试的环节。目的是为了筛选残次品，防止进入下一道的工序，减少下一道工序中的冗余的制造费用。这些环节需要通过各种物理参数来把握，这些参数可以是现实物理世界中的光，电，波，力学等各种参量，但是，目前大多数常见的是电子信号的居多。